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产品中心

低气压快速温变试验箱264L
前视图
右视图
左视图
测试箱展示

低气压快速温变试验箱264L

低气压试验箱适用于电工、电子产品及其他产品、零部件及材料进行低气压试验的环境试验箱设备,可满足电工电子产品及军用装备等环境试验。

机器型号:
AP-264
压力范围:
常压~50kPa (对应海拔高度约5000米)
压力偏差:
≦±2.0kPa
降压时间:
常压~50kPa≦20min(常温,内箱干燥时)
温度范围:
0℃~+85℃
温度波动度:
≦±0.5℃(常压时)
温度均匀度:
≦±2.0℃(常压时)
温度偏差:
≦±2.0℃(常压时)
升温速率:
由 +5℃ 升到 +85℃,全程平均2℃/min.空载,常压时 。
降温速率:
由 +85℃ 升到 +5℃,全程平均1℃/min.空载,常压时 。
标称内容积:
264L
内箱尺寸:
600x550x800mm
外箱尺寸:
1410x1450x1890mm

| 产品介绍

低气压快速温变试验箱264L

AP-264

突出特点:

高温试验、低温试验、温度变化试验、低气压试验、温度高度试验、低温/低气压综合试验、高温/低气压综合试验。

低气压快速温变试验箱264L
前视图
前视图
右视图
右视图
左视图
左视图
测试箱展示
测试箱展示

低气压快速温变试验箱264L(图1)低气压快速温变试验箱264L(图3)低气压快速温变试验箱264L(图1)低气压快速温变试验箱264L(图3)低气压快速温变试验箱264L(图4)低气压快速温变试验箱264L(图5)低气压快速温变试验箱264L(图6)低气压快速温变试验箱264L(图7)低气压快速温变试验箱264L(图8)低气压快速温变试验箱264L(图9)

合作案例

华为技术
北方华创
紫光集团
中科院
中山大学
哈尔滨工业大学
清华大学
特斯拉
中国汽车研究院
银河电子
北方夜视集团
云南北方光电仪器有限公司
中天宽带技术
中国建材检验
无锡先导集团
冠捷科技
深圳多美达数码科技
天津航空机电
东莞市慧彤电子
深圳市金派医疗
中国矿业大学
浙江银轮机械
北京民 用飞机技术研究中心
中汽研汽车工业工程

技术参数

型号ATP-264A
性能压力范围常压~50kPa (对应海拔高度约5000米)
压力偏差±2.0kPa
降压时间常压~50kPa20min(常温,内箱干燥时)
温度范围0℃~+85
温度波动度±0.5℃(常压时)
温度均匀度±2.0℃(常压时)
温度偏差±2.0℃(常压时)
升温速率   +5 升到 +85℃,全程平均2/min.空载,常压时
降温速率   +85 升到 +5℃,全程平均1/min.空载,常压时
标称内容积264L
内箱尺寸(xx)mm600x550x800
外箱尺寸(xx)mm1410x1450x1890
结构内箱内壁SUS304#雾面不锈钢板
外箱外壁优质碳素钢板,表面作静电彩色喷塑处理
密封条进口硅胶密封条
置物架不锈钢置物架2层,承重30kg/层。
箱门单开门,附视窗及照明(W210*H270mm
系统加热器优质镍铬合金丝电加热器,无触点控制方式(SSR)
制冷机谷轮全密式压缩机
真空泵飞越VSV-20(含油雾过滤器)
手动充气阀手动充气阀1,用于在真空停电时手动充气,恢复箱内压力以便开门。
压力传感器电子式压力传感器
   
测量范围:0?200KPa
   
综合精度:±0.2FS.BSL
   
输出:4?20mA
   
压力界面:G1/4内螺纹
控制器显示屏7吋显示器TFT彩色LCD控制器
运行方式程序运行、定值运行
设定方式中英文菜单、触摸屏方式输入
程序容量最大20,最大1000,最大20个循环 (每个循环步数最大99)
画面显示功能压力设定(SV)/实际(PV)/高度值直接显示;
   
可显示执行程序号码,段次,剩余时间及循环次数,运转时间显示;
   
程序编辑以及图形曲线显示;
   
定点或程序动作状态显示。
显示分辨率压力:0.1KPa;高度;1 m;温度:0.01℃;时间:1min
曲线记录功能具有带电池保护的RAM,可保存设备的设定值、采样值及采样时刻的时间;最大记录时间为60(当采样周期为1.5min)
USB功能可插1G-8G   盘下载历史曲线,历史数据,可插拔。
附属功能故障报警及原因、处理提示功能、断电保护功能、定时功能(自动启动及自动停止运行)、自诊断功能。
使用环境条件环境温度: +5 ~   +35℃;
   
环境湿度: ≤85RH(无结霜);
   
大气压值: 86kPa ~ 106kPa
电源要求AC 3801±10%V 50±0.5Hz 三相四线+保护地线
支持定制化需求


注:以上技术参数为室温+20℃或循环水温+25℃、空载(无试样)时下所测得。

试验标准及方法

1)GB/T 10590-2006 高低温/低气压试验箱技术条件;
2)GB/T 10589-2008 低温湿热箱技术条件;
3)GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;
4)GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
5)GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
6)GB/T 2423.21-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验M:低气压 (IEC 60068-2-13:1983, IDT);
7)GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
8)GB/T 2423.25-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 (IEC 68-2-40:1976, IDT);
9)GB/T 2423.26-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BM:高温/低气压综合试验 (IEC 68-2-41:1976, IDT);
10)GJB 150.2A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第2部分:低气压(高度)试验;
11)GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验;
12)GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验;
13)GJB 150.6A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第6部分:温度高度试验。

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