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产品中心

低气压试验箱 1000L
右视图
开箱视图
控制器展示

低气压试验箱 1000L

低气压试验箱,又称低气压试验机、低气压(高度)试验箱、高低温低气压试验箱、高低温低气压实验箱、高低温湿热低气压试验箱,适用于电工、电子产品及其他产品、零部件及材料进行低气压试验的环境试验箱设备。

机器型号:
ATP-1000D
压力范围:
常压 ~ 36KPa
压力偏差:
≦±2KPa
降压时间:
≦ 15min(常压→36KPa)
温度范围:
-40℃~+100℃
温度波动度:
≦±0.5℃(常压空载)
温度均匀度:
≦ 2.0℃(常压空载)
温度偏差:
≦±2.0℃(常压空载)
升温速率:
约 50min (室温 → +100℃,常压空载)
降温速率:
约 50min (室温 → -40℃,常压空载)
标称内容积:
1000L
内箱尺寸:
600x550x800mm
外箱尺寸:
W 1860 × H 2200 × D 3050 mm

| 产品介绍

低气压试验箱 1000L

ATP-1000D

突出特点:

测试箱采用激光焊机,具有极高的密封性能,制冷系统采用博客压缩机,制冷性极佳。进口控制器,精准控制。

低气压试验箱 1000L
右视图
右视图
开箱视图
开箱视图
控制器展示
控制器展示

低气压试验箱 800L(图1)低气压试验箱 800L(图2)低气压试验箱 800L(图1)低气压试验箱 800L(图4)低气压试验箱 800L(图5)低气压试验箱 800L(图6)低气压试验箱 800L(图7)低气压试验箱 800L(图8)低气压试验箱 800L(图9)低气压试验箱 800L(图10)

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合作案例

华为技术
北方华创
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中山大学
哈尔滨工业大学
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云南北方光电仪器有限公司
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天津航空机电
东莞市慧彤电子
深圳市金派医疗
中国矿业大学
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北京民 用飞机技术研究中心
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技术参数

型号ATP-1000D
调温调湿方式平衡温湿度控制系统(BTHC
性能温度范围-40 ~ +150℃(常压时)
温度波动度≤±0.5℃(在常压温度恒定的情况下)
温度偏差≤±2.0℃(常压时)
温度分布均匀度≤±2.0℃(常压时)
湿度均匀度±3.0%RH(常压时)
降温速率0.7℃~1.0/min.全程平均(常压时)
压力范围常压~0.5kPa
压力偏差≤4kPa时,±0.1kPa
   
4kPa~40kPa时,±0.5kPa
   
当≥40kPa时,±2.0kPa
降压速率常压~1kPa ≤30min.
压力恢复速率10kPa/min. 可调
标称内容积1000L
内箱尺寸(宽x深x高)mm1000x1000x1000
外箱尺寸(宽x深x高)mm1450x2400x2300
材料内箱优质SUS304#雾面不锈钢板
外箱优质碳素钢板,表面作静电彩色静电喷塑处理
密封条进口硅胶密封条
绝缘材料硬质聚氨脂泡沫保温层+玻璃纤维
系统加热器优质镍铬合金丝电加热器,无触点控制方式(SSR)
加湿器不锈钢铠装加湿器(水盆加热加湿方法)
制冷机德国博客或美国谷轮压缩机
抽真空VSV-20 1 真空泵(含油雾过滤器)
控制器显示屏
   
运行方式
   
程序容量
   
设定方式
   
输入
   
通讯接口
7吋显示器TFT彩色LCD控制器;
   
程序运行、定值运行;
   
最大20,最大1000,最大20个循环 (每个循环步数最大99)
   
中英文菜单、触摸屏方式输入;
   
热电偶/铂电阻/电压/电流;
    USB/RS-232/RS-485
(可选,软体另购)
噪音等级≤70dBA声级,,恒定时,设备正前方1米处)
使用环境条件环境温度: +5 ~   +35℃;
   
环境湿度: ≤85RH(无结霜);
   
大气压值: 86kPa ~ 106kPa
电源要求AC 3801±10%V 50±0.5Hz 三相四线+保护地线
支持定制化需求


注:以上技术参数为室温+20℃或循环水温+25℃、空载(无试样)时下所测得。

试验标准及方法

1)GB/T 10590-2006 高低温/低气压试验箱技术条件;
2)GB/T 10589-2008 低温湿热箱技术条件;
3)GB/T 11158-2008 高温试验箱技术条件;
4)GB/T 2423.1-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验A:低温 (IEC 60068-2-1:2007, IDT);
5)GB/T 2423.2-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验B:高温 (IEC 60068-2-2:2007, IDT);
6)GB/T 2423.21-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验M:低气压 (IEC 60068-2-13:1983, IDT);
7)GB/T 2423.22-2012 环境试验 第2部分:试验方法 试验N:温度变化 (IEC 60068-2-14:2009, IDT);
8)GB/T 2423.25-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/AM:低温/低气压综合试验 (IEC 68-2-40:1976, IDT);
9)GB/T 2423.26-2008 电工电子产品环境试验 第2部分:试验方法 试验Z/BM:高温/低气压综合试验 (IEC 68-2-41:1976, IDT);
10)GJB 150.2A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第2部分:低气压(高度)试验;
11)GJB 150.3A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第3部分:高温试验;
12)GJB 150.4A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第4部分:低温试验;
13)GJB 150.6A-2009 军用装备实验室环境试验方法 第6部分:温度高度试验。

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